一、電池的基本等效電路

二：實(shí)際電池探測(cè)時(shí)的變化曲線

三：內(nèi)阻的探測(cè)辦法

交流內(nèi)阻法：采用1KHz的正選波電流(一般為mA級(jí)別)，來探測(cè)引起的壓降，計(jì)算內(nèi)阻。直流內(nèi)阻法：筆直采用工作中的電流，延遲一段時(shí)間以后才探測(cè)引起的壓降，計(jì)算內(nèi)阻值。

DCR法：使用不同的充電和放電倍率的電流，繼續(xù)10S，記錄電壓和電流，形成一條直線，斜率即為內(nèi)阻。

MCCF法：采用繼續(xù)時(shí)間為5S的脈沖充放電電流，記錄電壓降，計(jì)算內(nèi)阻。

HppC法：美國pNGV規(guī)定，采用繼續(xù)的充放電脈沖，探測(cè)引起的壓降，有兩種(放電時(shí)間18秒，充電2S;充放電時(shí)間均為10S)逆推法：EDLC探測(cè)法根I據(jù)EC62391規(guī)定，放電程序完成后，取放電曲線上線性的區(qū)域之線段，并延申至放電之時(shí)間點(diǎn)取其與額定電壓間之電壓差與放電電，來計(jì)算DCIR值。

四：內(nèi)阻及內(nèi)阻的探測(cè)辦法的差別

由內(nèi)阻的探測(cè)辦法可知，通過控制電流，來探測(cè)或者逆推出壓降，通過計(jì)算來得出的結(jié)果。所以內(nèi)阻探測(cè)沒有精確度的說法，準(zhǔn)確的說法是指電壓擺幅(電壓降)的精度，在較高的電壓上精準(zhǔn)探測(cè)較小的電壓擺幅，是一個(gè)高難度的動(dòng)作，費(fèi)思在這方面有專利技術(shù)。一般內(nèi)阻所謂的精度是指內(nèi)阻重復(fù)度。就是儀器在探測(cè)同一個(gè)電池的同一個(gè)SOC點(diǎn)時(shí)，多次探測(cè)的結(jié)果漂移。

不同的探測(cè)辦法的探測(cè)結(jié)果之間是不可以比較的。因?yàn)椴煌奶綔y(cè)辦法偏重的使用環(huán)境不同。應(yīng)當(dāng)依據(jù)不同的使用環(huán)境選用相應(yīng)的探測(cè)辦法。惟有選對(duì)了辦法，探測(cè)結(jié)果才有可參考性。

電池在不同的SOC狀態(tài)下，內(nèi)阻值不相同，不同的放電電流值，內(nèi)阻值也不相同，所以一般說內(nèi)阻，是指洋溢電時(shí)的內(nèi)阻。特別是動(dòng)力鋰離子電池，內(nèi)阻是要探測(cè)整個(gè)充放電過程中的變化。最緊要的是70%~30%SOC。

五：探測(cè)法的使用

1、交流內(nèi)阻法：此探測(cè)法僅探測(cè)電池的歐姆內(nèi)阻，緊要評(píng)價(jià)的是電池芯的加工工藝好壞。電芯加廠家用交流內(nèi)阻的值來評(píng)價(jià)電芯的合格與否，通過電壓的波形來評(píng)價(jià)比如陽極陰極材料的噴涂效果，鉚接效果等等來改善工藝。而電子產(chǎn)品的供電電池也可采用此探測(cè)方式。一般來說，電池實(shí)際使用時(shí)，電流值小于0.1C的使用環(huán)境，用交流法探測(cè)是可置信的。

原由：工作電流小，那么工作時(shí)，引起的電池極化現(xiàn)象基本可以忽略，所以基本不影響實(shí)際使用。

注釋：同樣的電池使用環(huán)境不同，探測(cè)辦法不同，比如同樣的電芯用在手機(jī)上，則用交流內(nèi)阻探測(cè)即可，倘若用到移動(dòng)電源里，則用直流內(nèi)阻法探測(cè)。

優(yōu)勢(shì)：探測(cè)速度快，穩(wěn)定性好，探測(cè)設(shè)備便宜。

2、直流內(nèi)阻法：實(shí)際工作電流超過0.1C，那么就要用直流內(nèi)阻法進(jìn)行探測(cè)了。一般使用于動(dòng)力鋰離子電池或者大功率儲(chǔ)能電池，則使用這個(gè)辦法探測(cè)。一般電壓降的讀值會(huì)使用帶載時(shí)的電壓降，或者停止帶載時(shí)的回彈電壓。

DCR,MCCF,HppC三種辦法探測(cè)的基礎(chǔ)是相同的。并且在30%~70%SOC狀態(tài)下，探測(cè)結(jié)果基本相同，也與直流內(nèi)阻法探測(cè)相同。其他區(qū)段，差異也不是很大，均可用于電池的評(píng)估。

原由：工作電流大，會(huì)引起電池的電化學(xué)極化內(nèi)阻和濃差極化內(nèi)阻，而這兩項(xiàng)引起的內(nèi)阻值，基本相當(dāng)于交流內(nèi)阻，甚至?xí)髷?shù)倍，所以，在大電流輸出使用環(huán)境下，探測(cè)的時(shí)候非得考慮計(jì)劃內(nèi)阻。

3、逆推法：是建立在理想狀態(tài)下的電池的探測(cè)辦法，這個(gè)辦法一般會(huì)用使用于探測(cè)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定，不會(huì)使用與實(shí)際探測(cè)。因?yàn)樘綔y(cè)儀器本身不可能既保證高電壓的精度的同時(shí)保很小的電壓擺幅的探測(cè)，還要保證非常高長(zhǎng)時(shí)間帶在穩(wěn)定，和極低的溫度系數(shù)。